檢索結果：共34筆資料 檢索策略： "機械工程系".dept (精準) and cadvisor.raw="謝宏麟"
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本研究提出一套創新的雙自由度外差式雷射散斑干涉儀，此套干涉儀系統結合外差和散斑干涉術之優點，具備高的靈敏度和解析度及大量測範圍等量測性能。 此套雙自由度外差式雷射散斑干涉儀藉由光柵來實踐對稱式的光路…
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本研究提出一套創新的「外差式共光程折射率量測技術」，用以量測透明固體及液體折射率及其折射率變化。此套量測技術採「共光程光路」為設計概念，使參考光與量測光於空間中的行進路徑幾乎相同，可有效降低環境對量…
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近年來，精密機械業對於能提供高精度的量測設備需求正逐年攀升，透過具備優異量測性能的量測設備對工具機台進行位移、旋轉角和幾何誤差量測與校正，以維持高製造精度。然而，大多數的量測設備無法同時提供多自由度…
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本研究提出一套「高解析度陰影疊紋式量測系統」，此套系統是由LED光源模組、大面積小週期的線性光柵、影像擷取模組及軟體相位解調模組所組成，其系統架構簡單、組裝及調校容易，具低成本的開發優勢。此套量測系…
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本研究提出一套共面偵測分束器式光柵干涉儀，此套干涉儀採用「雙繞射式」的光路設計進行系統開發，透過光柵與反射鏡的搭配使通過光柵後的繞射光束再次穿過光柵形成二次繞射，用以引進加倍的的相位變化量，可有效提…
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本研究成功開發出一套創新的剪切干涉式波前感測器量測技術，可藉由量測波前變化，進行光學成像系統組裝程序中，透鏡元件於三維空間的位置對位檢測與校正，除可克服業界常用的雷射準直儀偏心檢測系統無法進行透鏡元…
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本研究提出一套以「多次繞射」為設計概念進行系統開發的「三繞射式雙光柵干涉儀」，用以進行精密位移及旋轉角度量測。此套「三繞射式雙光柵干涉儀」具備外差干涉術、光柵干涉術、三繞射式光路及共面偵測式光路等技…
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本研究提出一套可用以進行五自由度位移及旋轉角度量測的「準共光程式散斑干涉儀」。此套「準共光程式散斑干涉儀」透過電光調制器來進行外差光源調制，用以降低環境低頻擾動對量測結果所造成的影響，同時亦能提高系…
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本研究提出一套「新式雙外差共面偵測光柵干涉儀」，用以進行四自由度精密位移及旋轉角度量測。此套「新式雙外差共面偵測光柵干涉儀」採獨特的自混分頻多工概念進行設計，僅需一組電光調制器及半穿半反射鏡即可形成…
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本研究提出一套創新的雙外差式散斑干涉儀，用以進行精密的位移及旋轉角度量測。此套干涉儀主要是以散斑干涉術做為主要的量測基礎，同時我們依據分頻多工的概念設計了一組「雙電光調制光路」來形成雙外差光源，即干…